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-
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| Semestre (Sem) | | 1 | Primo Semestre | | 2 | Secondo Semestre | | A | Insegnamento Annuale | | (1) | Primo Emisemestre | | (2) | Secondo Emisemestre |
|
Lingua d'erogazione
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Insegnamento completamente offerto in lingua italiana
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|
Insegnamento completamente offerto in lingua inglese
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--
|
Non definita
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Note sulle attività didattiche
|
Nel caso di corsi strutturati in moduli, tenuti da più docenti, il numero di studenti iscritti è riferito al modulo del docente citato nel riquadro.
Il dato sull'opinione degli studenti riguarda il corso strutturato nel suo complesso.
I dati relativi all'ultimo anno accademico (numero di studenti iscritti e l'opinione degli studenti sulla didattica) non sono ancora definitivi.
|
|
Le informazioni sulla didattica, sulla ricerca e sui compiti istituzionali riportate in questa pagina sono certificate dall'Ateneo; ulteriori informazioni, redatte a cura del docente, sono disponibili sulla pagina web personale e nel curriculum vitae indicati nella scheda.
| Elenco delle pubblicazioni e dei prodotti della ricerca per l'anno 2025 |
| Nessun prodotto attualmente registrato nell'anno 2025 |
| Elenco delle pubblicazioni e dei prodotti della ricerca per l'anno 2024 (Mostra tutto | Nascondi tutto) |
| Tipologia |
Titolo Pubblicazione/Prodotto |
| Contributo in Atti di convegno |
|
An Experimental Comparison of RISC-V Processors: Performance, Power, Area and Security - Special Session Paper- (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
| Autore/i |
Lazzeri, Elia; Forlin, Bruno Endres; Furano, Gianluca; Ottavi, Marco; Cassano, Luca |
| Titolo del convegno |
37th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2024 |
| Luogo del convegno |
Harwell Campus in Oxfordshire, gbr |
| Periodo del convegno |
2024 |
| Titolo della rivista |
--
|
| Pagine |
1 - 6 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1286074 |
|
|
Cross-Layer Reliability Analysis of NVDLA Accelerators: Exploring the Configuration Space (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
| Autore/i |
Veronesi, A.; Nazzari, A.; Passarello, D.; Krstic, M.; Favalli, M.; Cassano, L.; Miele, A.; Bertozzi, D.; Bolchini, C. |
| Titolo del convegno |
29th IEEE European Test Symposium, ETS 2024 |
| Luogo del convegno |
The Hague, NL |
| Periodo del convegno |
2024 |
| Titolo della rivista |
--
|
| Pagine |
1 - 6 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1275977 |
|
| Autore/i |
Forlin, Bruno; Chen, Kuan-Hsun; Alachiotis, Nikolaos; Cassano, Luca; Ottavi, Marco |
| Titolo del convegno |
2024 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, DATE 2024 |
| Luogo del convegno |
Valencia, Spain |
| Periodo del convegno |
25-27 March 2024 |
| Titolo della rivista |
--
|
| Pagine |
1 - 2 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1275997 |
|
|
Range Restriction to Harden CNNs Against Hardware Faults: A Broad Empirical Analysis (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
| Autore/i |
Bolchini, C.; Cassano, L.; Miele, A.; Passarella, D. |
| Titolo del convegno |
37th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2024 |
| Luogo del convegno |
Harwell Campus in Oxfordshire, Great Britain |
| Periodo del convegno |
8/10/2024 - 10/10/2024 |
| Titolo della rivista |
--
|
| Pagine |
1 - 6 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1284006 |
|
| Articoli su riviste |
|
Resilience of deep learning applications: A systematic literature review of analysis and hardening techniques (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
| Autore/i |
Bolchini, Cristiana; Cassano, Luca; Miele, Antonio |
| Titolo della rivista |
COMPUTER SCIENCE REVIEW (ISSN: 1574-0137) |
| Volume |
54 |
| Fascicolo |
-- |
| Pagine |
1 - 21 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1276143 |
|
| Elenco delle pubblicazioni e dei prodotti della ricerca per l'anno 2023 (Mostra tutto | Nascondi tutto) |
| Tipologia |
Titolo Pubblicazione/Prodotto |
| Contributo in Atti di convegno |
|
Analyzing the Reliability of Alternative Convolution Implementations for Deep Learning Applications (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
| Autore/i |
Bolchini, C.; Cassano, L.; Miele, A.; Nazzari, A.; Passarello, D. |
| Titolo del convegno |
36th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2023 |
| Luogo del convegno |
Juan-Les-Pins, France |
| Periodo del convegno |
3/10/2023 - 5/10/2023 |
| Titolo della rivista |
--
|
| Pagine |
1 - 6 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1259389 |
|
|
Built-in Software Obfuscation for Protecting Microprocessors against Hardware Trojan Horses (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
| Autore/i |
Palumbo, Alessandro; Ottavi, Marco; Cassano, Luca |
| Titolo del convegno |
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) |
| Luogo del convegno |
Juan-les-Pins, France |
| Titolo della rivista |
--
|
| Pagine |
1 - 6 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1258253 |
|
|
Improving the Detection of Hardware Trojan Horses in Microprocessors via Hamming Codes (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
| Autore/i |
Palumbo, Alessandro; Cassano, Luca; Reviriego, Pedro; Ottavi, Marco |
| Titolo del convegno |
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) |
| Luogo del convegno |
Juan-Les-Pins, France |
| Titolo della rivista |
--
|
| Pagine |
1 - 6 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1258251 |
|
| Autore/i |
Nikiema, Pr; Palumbo, A; Aasma, A; Cassano, L; Kritikakou, A; Kulmala, A; Lukkarila, J; Ottavi, M; Psiakis, R; Traiola, M |
| Titolo del convegno |
IEEE 29th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) |
| Luogo del convegno |
Chania (Crete), Greece |
| Titolo della rivista |
--
|
| Pagine |
1 - 7 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1258249 |
|
| Articoli su riviste |
| Autore/i |
Bolchini, C.; Cassano, L.; Miele, A.; Toschi, A. |
| Titolo della rivista |
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS (ISSN: 0018-9340) |
| Volume |
72 |
| Fascicolo |
4 |
| Pagine |
984 - 997 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1239377 |
|
| Autore/i |
Pilato, C.; Collini, L.; Cassano, L.; Sciuto, D.; Garg, S.; Karri, R. |
| Titolo della rivista |
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS (ISSN: 0278-0070) |
| Volume |
42 |
| Fascicolo |
2 |
| Pagine |
462 - 472 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1227117 |
|
| Elenco delle pubblicazioni e dei prodotti della ricerca per l'anno 2022 (Mostra tutto | Nascondi tutto) |
| Tipologia |
Titolo Pubblicazione/Prodotto |
| Contributo in Atti di convegno |
|
Dependability of Alternative Computing Paradigms for Machine Learning: hype or hope? (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
| Autore/i |
Bolchini, C.; Bosio, A.; Cassano, L.; Deveautour, B.; Natale, G. D.; Miele, A.; O'Connor, I.; Vatajelu, I. |
| Titolo del convegno |
25th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2022 |
| Luogo del convegno |
Praga, Repubblica Ceca |
| Periodo del convegno |
06/04/2022 - 08/04/2022 |
| Titolo della rivista |
--
|
| Pagine |
7 - 13 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1230508 |
|
| Autore/i |
Cassano, Luca; Mascio, Stefano Di; Palumbo, Alessandro; Menicucci, Alessandra; Furano, Gianluca; Bianchi, Giuseppe; Ottavi, Marco |
| Titolo del convegno |
2022 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) |
| Luogo del convegno |
Austin, Texas, USA |
| Titolo della rivista |
--
|
| Pagine |
1 - 6 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1231743 |
|
|
On the optimization of Software Obfuscation against Hardware Trojans in Microprocessors (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
| Autore/i |
Cassano, L; Lazzeri, E; Litovchenko, N; Di Natale, G |
| Titolo del convegno |
2022 25th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS) |
| Luogo del convegno |
Prague, Czech Republic |
| Titolo della rivista |
--
|
| Pagine |
172 - 177 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1231747 |
|
| Autore/i |
Bolchini, C.; Cassano, L.; Miele, A.; Nazzari, A. |
| Titolo del convegno |
35th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2022 |
| Luogo del convegno |
Austin, TX, USA |
| Periodo del convegno |
19/10/2022 - 21/10/2022 |
| Titolo della rivista |
--
|
| Pagine |
1 - 6 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1230506 |
|
| Articoli su riviste |
|
A Runtime Resource Management and Provisioning Middleware for Fog Computing Infrastructures (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
| Autore/i |
Miele, Antonio; Zárate, Henry; Cassano, Luca; Bolchini, Cristiana; Ortiz, Jorge E. |
| Titolo della rivista |
ACM TRANSACTIONS ON THE INTERNET OF THINGS (ISSN: 2691-1914) |
| Volume |
3 |
| Fascicolo |
3 |
| Pagine |
1 - 29 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1223458 |
|
| Autore/i |
Biasielli, M.; Bolchini, C.; Cassano, L.; Mazzeo, A.; Miele, A. |
| Titolo della rivista |
IEEE TRANSACTIONS ON EMERGING TOPICS IN COMPUTING (ISSN: 2168-6750) |
| Volume |
10 |
| Fascicolo |
2 |
| Pagine |
648 - 661 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1230509 |
|
|
DETON: DEfeating hardware Trojan horses in microprocessors through software ObfuscatioN (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
| Autore/i |
Cassano, L; Iamundo, M; Lopez, Ta; Nazzari, A; Di Natale, G |
| Titolo della rivista |
JOURNAL OF SYSTEMS ARCHITECTURE (ISSN: 1383-7621) |
| Volume |
129 |
| Fascicolo |
-- |
| Pagine |
1 - 11 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1231733 |
|
|
Design of Fault-Tolerant Distributed Cyber-Physical Systems for Smart Environments (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
| Autore/i |
Cassano, L.; Miele, A.; Mione, F.; Tonellotto, N.; Vallati, C. |
| Titolo della rivista |
IEEE EMBEDDED SYSTEMS LETTERS (ISSN: 1943-0663) |
| Volume |
14 |
| Fascicolo |
2 |
| Pagine |
79 - 82 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1230505 |
|
| Autore/i |
Bolchini, C.; Boracchi, G.; Cassano, L.; Miele, A.; Stucchi, D. |
| Titolo della rivista |
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS (ISSN: 0018-9340) |
| Volume |
71 |
| Fascicolo |
2 |
| Pagine |
282 - 295 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1158407 |
|
|
Is your FPGA bitstream Hardware Trojan-free? Machine learning can provide an answer (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
| Autore/i |
Palumbo, A; Cassano, L; Luzzi, B; Hernandez, Ja; Reviriego, P; Bianchi, G; Ottavi, M |
| Titolo della rivista |
JOURNAL OF SYSTEMS ARCHITECTURE (ISSN: 1383-7621) |
| Volume |
128 |
| Fascicolo |
-- |
| Pagine |
1 - 9 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1231736 |
|
|
Processor Security: Detecting Microarchitectural Attacks via Count-Min Sketches (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
| Autore/i |
Arikan, K; Palumbo, A; Cassano, L; Reviriego, P; Pontarelli, S; Bianchi, G; Ergin, O; Ottavi, M |
| Titolo della rivista |
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS (ISSN: 1063-8210) |
| Volume |
30 |
| Fascicolo |
7 |
| Pagine |
938 - 951 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1231738 |
|
| Elenco delle pubblicazioni e dei prodotti della ricerca per l'anno 2021 (Mostra tutto | Nascondi tutto) |
| Tipologia |
Titolo Pubblicazione/Prodotto |
| Contributo in Atti di convegno |
|
A Lightweight Security Checking Module to Protect Microprocessors against Hardware Trojan Horses (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
| Autore/i |
Palumbo, Alessandro; Cassano, Luca; Reviriego, Pedro; Bianchi, Giuseppe; Ottavi, Marco |
| Titolo del convegno |
2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) |
| Luogo del convegno |
Online |
| Titolo della rivista |
--
|
| Pagine |
1 - 6 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1204477 |
|
|
Usability-based Cross-Layer Reliability Evaluation of Image Processing Applications (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
| Autore/i |
Bolchini, Cristiana; Cassano, Luca; Mazzeo, Andrea; Miele, Antonio |
| Titolo del convegno |
2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) |
| Luogo del convegno |
virtuale |
| Titolo della rivista |
--
|
| Pagine |
1 - 6 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1210881 |
|
| Articoli su riviste |
| Autore/i |
Lasheras, Ana; Canal, Ramon; Rodríguez, Eva; Cassano, Luca |
| Titolo della rivista |
MICROELECTRONICS RELIABILITY (ISSN: 0026-2714) |
| Volume |
116 |
| Fascicolo |
-- |
| Pagine |
1 - 10 |
| Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1158581 |
|
|
|
